叶面积指数测量仪原理及功能详解

叶面积指数测量仪介绍：

叶面积指数测量仪是款用来测量高层植物冠层的科研仪器！它采用鱼眼镜头和CCD图像传感器来获取植物冠层图像，并通过专业分析软件即可准确而快速的获取植物冠层中的叶面积指数、叶片平均倾角、散射辐射透过率等相关参数。仪器可直接测量不同高度的植物冠层，同时也能得到群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图。同时叶面积指数测量仪还自带USB接口，用户在测量时直接连接电脑即可实时查看冠层图像等，可广泛用于作物、植物群体冠层受光状况的测量分析以及农林业科研领域！

叶面积指数测量仪原理：

叶面积指数测量仪是采用冠层孔隙率与冠层结构相关的原理，依据光线穿过介质减弱的比尔定律。在植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。

叶面积指数测量仪测量指标：

叶面积指数测量仪可以无损测量叶面积指数、叶片平均倾角、散射辐射透过率、不同太阳高度角下的直射辐射透过率、不同太阳高度角下的消光系数、叶面积密度的方位分布、冠层内外的光合有效辐射（PAR）等参数。

叶面积指数测量仪功能：

1、仪器无损测量植物叶面积指数、叶片平均倾角以及冠层结构。

2、探头体积小巧，装在测杠上可任意角度测量植物冠层结构。

3、摄像头可自动保持水平。

4、USB接口，测量时连接电脑实时查看冠层图像，即时选取所需图像并保存。

5、外接大容量锂电池，适用于野外工作和长时间测量。

6、测量冠层不同高度，可得到群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图。

7、叶面积指数测量仪配有专用植物分析软件，有选择所需图像区域的功能（天顶角可分10区，方位角可分10区），可屏蔽不合理的冠层部分，仅对有效图像区域进行分析，使测量数据更加精确。

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